為了更加直觀地探究納米世界，大量研究者致力于發展高時間-空間分辨能力的微納探測技術。日前，北京大學物理學院介觀物理國家重點實驗室、納光電子前沿科學中心龔旗煌院士團隊在國家重大科研儀器研制項目的支持下，研制成功飛秒-納米超高時空分辨光學實驗系統。該實驗系統能夠同時實現幾個飛秒的超高時間分辨率和四納米的超高空間分辨率，成為介觀光學與微納光子學研究的強大實驗測量手段。
最近研究團隊利用超高時空分辨光發射電子顯微鏡(PEEM)，首次從近場微觀角度揭示了局域表面等離激元近場增強與退相干時間的內在關聯，研究團隊還首次從時間和能量布居演化兩個維度全面揭示了單層WS2超快電子冷卻和弛豫動力學過程。
在表面等離激元光子學實驗中，利用PEEM高空間分辨率的優勢直接觀測到金納米結構二聚體陣列體系中局域表面等離激元模式的近場分布，通過激發光波長依賴的光發射強度測量和基于超短脈沖的光發射自相關測量，分別獲得同一結構的表面等離激元的近場增強和退相干時間，發現兩者之間的關聯依賴于金納米結構二聚體間隙和激發光的偏振方向，首次揭示出這種關聯性由近場遠場耦合和納米結構局域作用共同決定。
研究成果對于理解表面等離激元光子學中的基本物理問題以及拓展表面等離激元在高靈敏檢測與傳感、太陽能電池等微納光子器件應用研究具有重要意義。
在單層WS2超快電子冷卻和弛豫動力學過程研究中，團隊發現襯底上的和懸空的單層WS2都存在的兩個時間尺度的超快動力學過程，分別歸于導帶的電子冷卻和缺陷捕獲過程，從衰減曲線可以觀察到兩個時間尺度的過程，分別為0.3 ps和3 ps左右。通過能量分辨的PEEM測量，發現第一個過程與電子在導帶的冷卻相對應，第二個過程反映了電子在導帶底的弛豫。
另外，通過對比懸空的單層WS2樣品的PEEM測量，并結合熒光光譜和拉曼光譜表征，發現該弛豫過程主要與缺陷態有關。此項研究借助于PEEM在空間、時間與能量等多維度的分辨能力，揭示了典型TMDs材料單層WS2超快的電子冷卻和缺陷捕獲的動力學過程。研究還發現缺陷態的產生與真空下光照有關，這種缺陷的產生方式及其對動力學過程的顯著影響，在一般的光發射實驗和光譜測量中值得注意。
相關研究工作由北京大學團隊、日本北海道大學電子科學研究所Hiroaki Misawa教授團隊和中國科學院半導體研究所譚平恒研究員課題組合作完成。北京大學博士生李耀龍是兩篇文章的第一作者。研究工作得到了科技部重點研發計劃、國家自然科學基金委、人工微結構和介觀物理國家重點實驗室、量子物質科學協同創新中心、極端光學協同創新中心和納光電子前沿科學中心、日本文部科學省及日本學術振興會等的支持。
電子顯微鏡，經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。它的技術應用是建立在光學顯微鏡的基礎之上的，光學顯微鏡的分辨率為0.2μm，透射電子顯微鏡的分辨率為0.2nm，也就是說透射電子顯微鏡在光學顯微鏡的基礎上放大了1000倍。
